Oberflächencharakterisierung

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Hochgenaue Oberflächenanalyse im Nanomaßstab im Tapping-Modus.

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Hochgenaue Oberflächenanalyse im Nanomaßstab im Kontaktmodus.

Goniometer

Kontaktwinkelanalyse

Ultra-Nanoindentation

Nano-Härtetest, der sowohl lokale Härte als auch den lokalen elastischen Modulus mit einer Auflösung im Nanometerbereich bestimmen kann